Trodnevni interaktivni seminar će vam pomoći da smanjite vreme i troškove pri dizajnu i testiranju RF-a
National Instruments, koji izrađuje sisteme koji omogućavaju inžinjerima i naučnicima da reše najveće inžinjerske izazove na svetu, organizovaće svoj RF & Wireless virtuelni samit od 1. do 3. decembra 2015. u formi šesodelnog interaktivnog webkasta kako bi pomogao inžinjerima da smanje vreme i troškove prilikom RF dizajna i testiranja u nizu vajerles aplikacija.
Namenjen dizajn i test inžinjerima kako bi se suočili sa izazovima kao što su niska cena testiranja vajerles uređaja, kao i izrade prototipa novog komunikacionog sistema, samit će isražiti kako da se koristi modularna, softverski definisana platforma kako bi se smanjilo vreme testiranja RF sistema, kao i povećala brzina izrade vajerles prototipa.
Seminar će voditi iskusni inžinjeri koji su eksperti za ovu temu, a polaznici kursa će moći da interaguju sa tehničkim ekspertima iz NI, kroz čet u realnom vremenu će moći da postavljaju pitanja i diskutuju o temama. Kompletan seminar će biti moguće videti i posle održavanja, na zahtev. Teme koje pokriva seminar su:
- Cenovno ekonomičan test mobilnih i vajerles uređaja u eri IoT i 5G
- Smanjenje troškova testiranja RFIC od dizajna do proizvodnje
- Dizajn, simulacija i test RADAR sistema
- Izrada prototipa 5G vajerles sistema korišćenjem softverski definisanog radija
Registracija i pregled kompletne agende možete videti na: uk.ni.com/rf-and-wireless-virtual-summit
O National Instruments-u
O National Instruments-u Od 1976, NI (www.ni.com) omogućava inženjerima i naučnicima da rešavaju najveće inženjerske izazove moćnim i fleksibilnim tehnološkim rešenjima koja ubrzavaju produktivnost i pospešuju inovativnost. Korisnici iz raznih industrija – od zdravstva do automobilske industrije i od elektronike do fizike čestica – koriste NI hardverski i softverski integrisanu platformu za poboljšanje sveta u kome živimo.
Više informacija: National Instruments d.o.o., Kosovelova ulica 15, SI 3000 Celje, Slovenija, serbia.ni.com
